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损耗因子也指耗损正切，是交流电被转化为热能的介电损耗（耗散的能量）的量度，*般情况下都期望耗损因子低些好 。
介质损耗测试仪 宏观结构不均勾性的介质损耗
工程介质材料大多数是不均匀介质。例如陶瓷材料就是如此，它通常包含有晶相、玻璃相和气相，各相在介质中是统计分布口。由于各相的介电性不同，有可能在两相间积聚了较多的自由电荷使介质的电场分布不均匀，造成局部有较高的电场强度而引起了较高的损耗。但作为电介质整体来看，整个电介质的介质损耗必然介于损耗*大的*相和损耗*小的*相之间。
本仪器由电脑控制，是我公司自主研发的全新*二代介电击穿检测仪器，本仪器由数字集成电路系统与软件控制系统两大部分构成，使升压速率真正做到匀速、准确，并能够准确测出漏电电流的数据。可实时绘制试验曲线，显示试验数据，判断准确，并可保存，分析，打印试验数据。本系统能够自动判别试样击穿并采集击穿电压数据及泄露电流，同时能够在击穿的瞬间电压迅速降低自动归零。软件系统操作方便，性能稳定，安全可靠。
介质损耗（dielectric loss ）指的是*缘材料在电场作用下，由于介质电导和介质*化的滞后效应，在其内部引起的能量损耗。也叫介质损失，简称介损。
介质损耗因数（dielectric loss factor）指的是衡量介质损耗程度的参数。
电感：
线圈号 测试频率 Q值 分布电容p 电感值
9 100KHz 98 9.4 25mH
8 400KHz 138 11.4 4.87mH
7 400KHz 202 16 0.99mH
6 1MHz 196 13 252μH
5 2MHz 198 8.7 49.8μH
4 4.5MHz 231 7 10μH
3 12MHz 193 6.9 2.49μH
2 12MHz 229 6.4 0.508μH
1 25MHz，50MHz 233，211 0.9 0.125μH
电介质经常是*缘体。其例子包括瓷器(陶器)，云母，玻璃，塑料，和各种金属氧化物。有些液体和气体可以作为好的电介质材料。干空气是良好的电介质，并被用在可变电容器以及某些类型的传输线。蒸馏水如果保持没有杂质的话是好的电介质，其相对介电常数约为80。
技术参数：
1．Q值测量
a．Q值测量范围：2～1023。
b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。
c．标称误差
频率范围（100kHz～10MHz）： 频率范围（10MHz～160MHz）：
固有误差：≤5％±满度值的2% 固有误差：≤6％±满度值的2%
工作误差：≤7％±满度值的2% 工作误差：≤8％±满度值的2%
2．电感测量范围：4.5nH~7.9mH
3．电容测量：1~205
主电容调节范围：18～220pF
准确度：150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1%
注：大于直接测量范围的电容测量见后页使用说明
4. 信号源频率覆盖范围
频率范围CH1:0.1～0.999999MHz, CH2: 1～9.99999MHz,
CH3:10～99.9999MHz, CH1 :100～160MHz,
5．Q合格指示预置功能: 预置范围：5～1000。
6．B-测试仪正常工作条件
a. 环境温度：0℃～+40℃；
b．相对湿度：<80％；
c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。
7．其他
a．消耗功率：约25W；
b．净重：约7kg；
c. 外型尺寸：（l×b×h）mm：380×132×280。
特点：
◆ 优化的测试电路设计使残值更小
◆ 高频信号采用数码调谐器和频率锁定技术
◆ LED 数字读出品质因数，手动/自动量程切换
◆ 自动扫描被测件谐振点，标频单键设置和锁定，大大提高测试速度
介电常数,用于衡量*缘体储存电能的性能.它是两块金属板之间以*缘材料为介质时的电容量与同样的两块板之间以空气为介质或真空时的电容量之比。介电常数代表了电介质的*化程度，也就是对电荷的束缚能力，介电常数越大，对电荷的束缚能力越强。电容器两*板之间填充的介质对电容的容量有影响，而同*种介质的影响是相同的，介质不同，介电常数不同。
标准配置：
高配Q表 *只
试验电* *只 （c类）
电感 *套（9只）
电源线 *条
说明书 *份
合格证 *份
保修卡 *份
测试注意事项
a．本仪器应水平安放；
b．如果你需要较精确地测量，请接通电源后，预热30分钟；
c．调节主调电容或主调电容数码开关时，当接近谐振点时请缓调；
d．被测件和测试电路接线柱间的接线应尽量短，足够粗，并应接触良好、可靠，以减少因接线的电阻和分布参数所带来的测量误差；
e．被测件不要直接搁在面板顶部，离顶部*公分以上，必要时可用低损耗的*缘材料如聚苯乙烯等做成的衬垫物衬垫；
f．手不得靠近试件，以免人体感应影响造成测量误差，有屏蔽的试件，屏蔽罩应连接在低电位端的接线柱。
温度
损耗指数在*个频率下可以出现*个*大值，这个频率值与电介质材料的温度有关。介质损耗因数和电容率的温度系数可以是正的或负的，这取决于在测量温度下的介质损耗指数*大值位置。
试样的几何形状：
测定材料的电容率和介质损耗因数，*好采用板状试样，也可采用管状试样。
在测定电容率需要较高精度时，*大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的精确度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对 1%的精确度来讲，1.5 mm的厚度就足够了，但是对于更高精确度，*好是采用较厚的试样，例如6 mm-12 mm 。测测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在士1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度 选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量 10 pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的*限分辨能力约 1 pF,因此试样应薄些，直径为 10 cm或更大些。
需要测低损耗因数值时，很重要的*点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小 同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大 **点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小。*二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容*好取值为20 pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5 pF。
边缘效应
为了避免边缘效应引起电容率的测量误差，电*系统可加上保护电*。保护电*的宽度应至少为两倍的试样厚度，保护电*和主电*之间的间隙应比试样厚度小。假如不能用保护环，通常需对边缘电容进行修正，表 工给出了近似计算公式 这些公式是经验公式，只适用于规定的几种特定的试样形状。
此外，在*个合适的频率和温度下，边缘电容可采用有保护环和无保护环的(比较))测量来获得，用所得到的边缘电容修正其他频率和温度下的电容也可满足精度要求。
测量
电气测量按本标准或所使用的仪器(电桥)制造商推荐的标准及相应的方法进行。
在 1 MHz或更高频率下，必须减小接线的电感对测量结果的影响。此时，可采用同轴接线系统(见图 1所示)，当用变电抗法测量时，应提供*个固定微调电容器。
加到试样上的电*
电*可选用 5.1.3中任意*种。如果不用保护环。而且试样上下的两个电*难以对齐时，其中*个电*应比另*个电*大些。已经加有电*的试样应放置在两个金属电*之间，这两个金属电*要比试样上的电*稍小些。对于平板形和圆柱形这两种不同电*结构的电容计算公式以及边缘电容近似计算的经验公式由表1给出.
对于介质损耗因数的测量，这种类型的电*在高频下不能满足要求，除非试样的表面和金属板都非常平整。图 1所示的电*系统也要求试样厚度均匀。
主要产品有：
拉力试验机， 塑料球压痕硬度计
维卡热变形试验仪， 体积表面电阻率测试仪
海绵泡沫落球回弹试验机， 海绵泡沫拉伸强度试验机
耐压试验机， 介电常数测试仪
海绵泡沫压陷硬度测验仪， 介质损耗测试仪
海绵泡沫疲劳压陷试验机， 薄膜冲击试验机
熔融指数仪， 无转子硫化仪
电压击穿试验仪， 摩擦系数仪
低温脆性冲击试验仪 阿克隆磨耗试验机等。